手持礦石分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以激發(fā)樣品中對(duì)應(yīng)元素原子的內(nèi)層電子，并出現(xiàn)殼層空穴，此時(shí)原子處于不穩(wěn)定狀態(tài)，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線，原子恢復(fù)穩(wěn)態(tài)。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。

 

　　儀器可應(yīng)用于以下這些領(lǐng)域中：

　　1、快速普查大范圍的礦區(qū)，有效測(cè)定地帶模式，繪制礦山圖、實(shí)時(shí)勘察。

　　2、發(fā)現(xiàn)異常狀況，做到開(kāi)采富礦區(qū)。

　　3、現(xiàn)場(chǎng)快速追蹤礦化異常，有效地尋找“熱點(diǎn)”地帶，圈定礦體邊界。

　　4、對(duì)銑頭、精礦和礦渣的分析，以建立開(kāi)采和富集的過(guò)程。

　　5、判定礦帶走向及礦石含量的異常，避免錯(cuò)誤開(kāi)采。

　　6、對(duì)高品位、精選礦石的品位評(píng)定，提供礦石采集、收購(gòu)依據(jù)。

　　7、對(duì)礦渣、尾礦中殘存的礦石元素分析，再次判定其。

　　8、在礦石開(kāi)采過(guò)程，搪孔、研磨、濃縮和熔煉過(guò)程中進(jìn)行品檢，確定品位，對(duì)濾熔池、存儲(chǔ)塘和鋼槽溶液進(jìn)行分析。

　　9、動(dòng)力設(shè)備、管道、產(chǎn)線維護(hù)，分析設(shè)備潤(rùn)滑油等油品中的微量金屬，以判定設(shè)備的磨損狀況。

　　10、污染水、廢水中污染金屬成份、污染模式、污染邊界的迅速調(diào)查與測(cè)量。